探伤仪具有DAC曲线和TCG曲线的功能。这些功能可以通过DAC菜单获得。DAC和TCG功能都以操作者所记录数据点为依据。这些数据点将在下面进行描述。
DAC/TCG是一条距离幅度曲线，同一当量的缺陷随着深度的增大，受信号的衰减、声束的扩散以及其他因素的影响，其回波幅度呈指数下降趋势，因此把不同深度的同一当量的人工缺陷的反射回波幅度连成一条曲线，这条曲线即是DAC曲线；而用这条DAC曲线沿深度方向的下降趋势对不同深度的反射回波幅度进行补偿，这时探伤仪就工作在TCG模式下，将所有的深度补偿值连成一条曲线，这条曲线即是TCG曲线。
DAC曲线是用于区分大小相同，但距离不同的反射体幅度的变化。通常情况下，在绘制好DAC曲线后，不管材料中反射体的位置如何，同样大小的反射体产生的回波峰值均在同一条曲线上。同样道理，比曲线所表示的反射体尺寸小的，其反射回波会落在该曲线下面，而较大一些的会落在该曲线上面。
DAC功能中所有回波都以真实幅度表现出来（不考虑深度补偿）。当使用DAC模式的时候，会有一条或者几条距离波幅曲线有层次的显示在屏幕上。每条曲线如图7-1中显示的，都能连续地描述不同深度下的同一尺寸反射体的回波幅度。
 
图7-1 DAC曲线
TCG功能通过对A扫描回波幅度进行深度补偿后，使得同一尺寸反射体回波幅度与其在被检材料中的深度无关。因此在TCG模式下，当探伤仪增益条件不变时更有利于发现位于材料内部较深位置的缺陷。
 
图7-2 TCG曲线
激活DAC/TCG后将在指示符号栏中显示 符号。
7.1    DAC/TCG参考点的记录及曲线设置
DAC/TCG记录点取自相同参数设置条件下位于不同材料深度的等尺寸反射体（孔）。最多可记录16个点的反射回波。记录参考点以前，需要完成探伤仪与探头的校准以及必要的探伤仪设置（发射、接收参数设置等）。参考点记录以后，为不影响测量的准确性，这些设置将不允许被修改。
DAC/TCG功能的动态范围为40dB。记录DAC/TCG参考点可参照以下步骤：
第一步：启动DAC菜单，即按下主菜单中继续选项下的【功能键】，然后按下DAC菜单下的【功能键】即可启动DAC菜单。按【功能键】选择设置1子菜单，选择DAC/TCG曲线显示功能项，按【确认键】将选项调节为开。再按【功能键】选择标定子菜单。
第二步：调节A闸门起点至第一个反射体（孔）深度附近，适当调节A闸门高度使得A闸门高度高于噪声信号的高度（在A闸门探测模式为前沿时，应保证回波信号能穿过A闸门）。将探头置于第一个反射体（孔）上并移动探头获得最高反射回波，如果需要可改变探伤仪增益使A闸门中的回波峰值接近满屏的80% ，但最高回波不能超过满屏高度。
重要提示：启动峰值记忆功能可使用户方便的寻找并记录最高回波的峰值信息，峰值记忆功能位于基本/设置菜单内，此外回波高度必须为有效值，即显示读数A%A不能为反亮显示的无效值，否则记录的标定点将是错误的。
第三步：使A闸门位于第一个参考回波上并使回波稳定后，按【上键】或【下键】选择标定点功能项，并按一下【确认键】执行记录功能。.当标定点功能项中的值由0变为1 时表示已将第一个参考点记录下来。
第四步：继续按2、3步的要求设置其他参考点，最多记录16个（至少需要记录两个参考点，参考点可按声程位置的任意顺序进行记录）。
说明：当正确完成两个标定点后，DAC曲线将自动绘制在屏幕上。
第五步：如需探伤仪工作在TCG模式下，可修改DAC模式功能项，选择TCG选项。DAC模式功能项位于设置1子菜单内。
第六步：对已经记录好的参考点的编辑将在7.4节中介绍。
第七步：设置偏置曲线，进入设置1子菜单，选择偏置曲线数量功能项，调节所需的偏置曲线数量，可选数量为0～9。进入设置2子菜单，选择DAC偏置编号功能项，按【左键】或者【右键】选择编号，然后选择DAC偏置增量功能项，按【左键】或者【右键】调节所选偏置曲线的偏置值。按同样的步骤设置所有的偏置曲线。偏置曲线设置完成后，将显示在屏幕上，并且在曲线的后面标明偏置曲线的编号。
注意：DAC偏置编号0为母线，其偏置值是0dB，是不能被修改的。
第八步：设置曲线补偿值，进入设置2子菜单，选择材料衰减补偿功能项，按【左键】或者【右键】调节并设定材料衰减补偿值（只对TCG模式有效）；选择工件表面补偿功能项，按【左键】或者【右键】调节并设定工件表面补偿值（只对DAC模式有效）。
第九步：如果需要在关闭屏幕上显示的DAC标定曲线，可以选择DAC/TCG曲线显示功能项，按【左键】【右键】或连续按【确认键】选择关。DAC标定曲线的后面用字符“B”标明。
说明：材料衰减补偿值用于补偿因标定试块与被测材料声衰减系数不同引起的差异；工件表面补偿值用于补偿因标定试块与被测材料探测表面耦合条件不同引起的差异。
备注：DAC/TCG参考点、曲线偏置及补偿、DAC模式（关闭、TCG 、DAC）可随其它参数一起被储存在参数文件中。当需要调用时，可随其它参数一同被调出并获得和储存时一样的曲线状态。
7.2    TCG曲线的运用
在TCG模式下，探伤仪根据记录的参考点对不同深度位置的回波幅度进行修正，以使来自同样尺寸反射体的回波显示相同的幅度（图7-2）。启动TCG模式的操作需要执行以下几步：
第一步：打开DAC菜单后，选择设置1子菜单。
第二步：选择DAC/TCG模式功能项，按【左键】【右键】或连续按【确认键】调节功能项内容，直到显示为TCG。
第三步：如果需要在屏幕上显示TCG曲线，可以选择DAC/TCG曲线显示功能项，按【左键】【右键】或连续按【确认键】选择开或关。
第四步：选择TCG起点模式（根据所安装的选件确定），选择IP模式时，回波幅度修正从距离发射脉冲最近的记录点开始；选择IF模式时，回波幅度修正从距离IF门最近的记录点开始。
备注：TCG曲线每一点的高度表示该点所需补偿的增益水平，同时曲线每一点在屏幕上的水平位置表示该点在被测材料内所处的深度。
7.3    DAC曲线的运用
在DAC模式下，探伤仪利用记录的参考点来建立DAC曲线，DAC曲线表示位于不同深度相同尺寸反射体的回波幅度（图7-1）。DAC偏置曲线将屏幕回波显示区划分为几个区域，例如图7-1所示的三条DAC偏置曲线将屏幕划分为四个区域，最上方的偏置曲线称为判废线，中间的偏置曲线称为定量线，最下方的偏置曲线称为评定线。运用DAC 曲线需要执行以下几步：
第一步：打开DAC菜单后，选择设置1子菜单。
第二步：选择DAC/TCG模式功能项，按【左键】【右键】或连续按【确认键】调节功能项内容，直到显示为DAC。
第三步：选择DAC当量计算结果显示，进入基本/测量结果子菜单，选择某一显示读数功能项，按【左键】【右键】或连续按【确认键】调节功能项内容，直到显示DACr选项，其中DACr即为A闸门测定的反射体回波波幅与选定的DAC偏置曲线高度的dB差。
第四步：选择用于测量的DAC偏置曲线，选择DAC/设置2子菜单，选择DAC偏置编号功能项，按【左键】或者【右键】选择编号，选中的偏置编号即为用于测量的偏置曲线，同时在A扫描回波显示区内DAC曲线对应的偏置曲线以彩色显示。
第五步：移动A闸门使其起止位置包含被测的A扫描回波，则反射体回波波幅与DAC偏置曲线高度的dB差将会被计算并显示。
7.4    编辑DAC或TCG参考点或参考点重新标定
记录参考点后，如果测值不准确，可能需要手动修改，或者添加新的参考点（只要总的个数不超过16 个）。
编辑或添加新的参考点：
第一步：打开DAC菜单后，选择编辑1子菜单。
第二步：选择编辑点号功能并选择需要修改的参考点（或新建）出现。
第三步：选择编辑点位置功能并调整参考点的声程位置。
第四步：选择编辑点增益功能并调整参考点的增益水平（不管这些点用于DAC还是TCG，以上调整均适用）。
第五步：选择输入功能项，按【确认键】记录以上的调整值。DAC或TCG曲线按以上编辑的结果进行调整。
重新标定一个参考点：
第一步：打开DAC菜单后，选择编辑2子菜单。
第二步：选择编辑点号功能并选择需要重新标定的参考点出现。
说明：当编辑点号内容出现关或空时，表明没有编辑点被选中，重新标定功能无效。
第三步：调节A闸门及增益使A闸门内的回波满足标定要求（参考7.1节的描述）。
第四步：选择编辑点重标定功能，然后按【确认键】重新记录选定的参考点。DAC或TCG曲线将按新的参考点进行重新绘制。
7.5    删除DAC或TCG参考点
第一步：打开DAC菜单后，选择编辑2子菜单。
第二步：选择编辑点号功能并选择需要删除的参考点出现。
说明：当编辑点号内容出现关或空时，表明没有编辑点被选中，删除功能无效。
第三步：选择编辑点删除功能，然后按【确认键】删除选定的参考点。DAC或TCG曲线根据剩余的参考进行重新绘制，如果所有参考点都被删除或只剩余一个参考点时，DAC或TCG曲线自动关闭。
7.6    删除DAC或TCG曲线
第一步：打开DAC菜单后，选择标定子菜单。
第二步：选择删除曲线功能，然后按【确认键】删除DAC或TCG曲线。
说明：标定的参考点及曲线的设置参数可随参数文件进行存储及调出，也可在关机保存时随关机参数设置进行存储并在开机时随存储的参数一同调出。删除曲线功能仅删除内存中的参考点信息，不改变其他的参数设置，也不会更改参数文件中存储的参考点信息。