8.1 范围
本章适用于在用承压设备超声检测方法。
8.2 在用承压设备受压元件的超声检测方法
8.2.1 在用承压设备受压元件的超声检测工艺文件
8.2.1.1在用承压设备受压元件超声检测的工艺文件应满足4.3的要求。
8.2.1.2 在用承压设备受压元件的超声检测工艺规程一般包括表1、表2和表37所列的相关因素。
表37 在用承压设备受压元件件超声检测工艺规程涉及的因素
| 设备使用状况（温度、压力、介质、工况等） |
| 工件表面情况（腐蚀等） |
| 材料失效模式或风险评估（RBI）分析结果（如有） |
| 注：受压元件，是指锅炉本体上的锅筒、集箱、下降管、水冷壁管、封头、人孔等，压力容器本体上的壳体、封头（端盖）、膨胀节、设备法兰、球罐的球壳板，换热器的管板和换热管，M36以上（含M36）的设备主螺柱及公称直径大于或者等于250mm的接管和管法兰，压力管道上的管子及管道及管道元件等。 |
8.2.2.1 对在用承压设备受压元件进行超声检测时，其主要检测方法应符合第5章的有关规定。
8.2.2.2 对在用承压设备受压元件进行超声检测时，应根据设备材质、制造技术条件、使用状况（温度、压力、介质、工况等）、材料失效模式或风险评估（RBI）分析结果及相关技术规范等选择超声检测方法。
8.2.2.3 根据材料失效模式或风险评估（RBI）分析结果、缺陷产生的可能性推荐选择超声检测方法见表38。
8.2.2.4 在用承压设备复合钢板超声检测方法按5.4的规定执行，检测时应注意检测基材和复合板界面有无未结合，或未结合有无扩展。
8.2.2.5 对于在用螺栓或螺柱的超声检测，除应符合5.6的有关规定外，还应对螺纹根部是否有裂纹进行检测，其主要检测内容如下：
a) 在螺栓或螺柱端部采用纵波斜探头进行检测，斜探头的纵波折射角一般取2°～8.5°，标称频率为4MHz～5MHz。纵波斜探头一般检测适用于无中心孔螺栓的检测；
b) 在螺栓或螺柱无螺纹部位采用折射角为45°～56°（K1～K1.5），标称频率为2MHz～5MHz的横波斜探头进行轴向检测；
c) 纵波斜探头检测和横波斜探头轴向检测的对比试样应采用与被检工件材料、形式和规格相同或相近的螺栓或螺柱制作。人工缺陷反射体（切槽）应位于最大探测声程处并垂直于螺栓或螺柱的轴线，切槽离开螺栓两端的距离应不小于螺栓直径。人工反射体的形状和尺寸如图28所示。也可将螺栓的丝扣反射波幅调节到某一基准波高并以此作为检测灵敏度；
d) 在用螺栓或螺柱超声检测时，如在螺纹根部出现比切槽回波幅度高的缺陷反射波时，应使用其他表面无损检测方法进行辅助检测，判断是否有影响使用的缺陷存在。
表38 超声检测方法推荐表
| 损伤模式 | 损伤机理 | 易受到腐蚀或失效的材料 | 可能产生的缺陷 | 超声检测方法 |
| 环境开裂 | 腐蚀疲劳 | 几乎所有的金属和合金 | 材料表面的疤痕、凹陷、缺陷及节点等 | 斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 热疲劳 | 所有的金属 | 处于反复的热循环条件下金属构件开裂 | 斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 高温氢腐蚀 | 碳钢、低合金钢、Cr-Mo钢和不 锈钢等材料 |
母材开裂 | 斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 碱开裂 | 碳钢、低合金钢和奥氏体列不锈钢（含双相钢） | 与焊缝相连的母材开裂 | 斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 湿硫化氢损伤（鼓 泡/氢致开裂/应力 导向氢致开裂/硫化物应力腐蚀开裂） |
碳钢和低合金钢 | 母材鼓泡或开裂 | 斜探头检测、直探头检测等 |
| 腐蚀减薄 | 二氧化碳腐蚀 | 碳钢和低合金钢 | 全面腐蚀或孔腐蚀 | 斜探头检测、直探头检测、超声测厚等 |
| 腐蚀减薄 | 碱腐蚀 | 碳钢、低合金钢和奥氏体不锈钢（包括钢双相） | 局部腐蚀 | 斜探头检测、直探头检测、超声测厚等 |
| 腐蚀减薄 | 胺腐蚀 | 碳钢 | 全面腐蚀或局部腐蚀 | 斜探头检测、直探头检测、超声测厚等 |
| 腐蚀减薄 | 酸性水腐蚀 | 碳钢 | 局部腐蚀 | 斜探头检测、直探头检测、超声测厚等 |
| 腐蚀减薄 | 盐酸腐蚀 | 所有常见建造材料 | 全面腐蚀或局部腐蚀 | 斜探头检测、直探头检测、超声测厚等 |
| 腐蚀减薄 | 高温氢/硫化氢腐蚀 | 按抗腐蚀性增加的顺序：碳钢、 低合金钢、铁素体不锈钢和奥氏体不锈钢（含双相钢） |
全面腐蚀 | 直探头检测、超声测厚等 |
| 腐蚀减薄 | 高温硫/环烷酸腐蚀 |
碳钢、低合金钢、奥氏体不锈 钢（含双相钢）、铁素体不锈钢和镍基合金 |
局部腐蚀或点蚀 | 斜探头检测、直探头检测、超声测厚等 |
说明：
r—螺纹内半径，mm；
L—人工切槽长度，mm；
b—人工切槽深度，mm。
当切槽加工在螺纹根部时，切槽应顺着螺纹的螺旋角，此时b 为螺纹根部以下的深度。
图28 人工切槽
8.3 在用承压设备厚度超声测量
8.3.1 在用承压设备厚度超声测量应符合第7章的规定。
8.3.2 测量仪器的选择
8.3.2.1 对于均匀腐蚀，一般可使用数字式测厚仪进行测量。当表面腐蚀严重或表面涂层较厚时，应使用超声检测仪进行厚度测量。
8.3.2.2 当需要在给定区域内测出最小壁厚时，一般应使用超声检测仪进行扫查。
8.3.2.3 对于非均匀腐蚀如点蚀等，一般应使用超声检测仪进行厚度测量。
8.3.3 探头的选择
8.3.3.1 应根据仪器类型、工件厚度、表面状况等选择探头。
8.3.3.2 数字式测厚仪的探头一般和仪器配套固定使用。用于超声检测仪的探头应按以下情况选择：
a) 选择的探头标称频率应使待测工件厚度至少大于1.5倍声波波长；
b) 被测工件厚度大于等于10mm时，一般用单晶直探头进行测厚。被测工件厚度小于10mm时，可用双晶直探头进行测厚；
c) 对曲面工件进行测厚时，应选择晶片尺寸较小的探头。
8.4 在用承压设备焊接接头的超声检测
8.4.1 范围
本条适用于在用钢制承压设备焊接接头的超声检测。在用有色金属制承压设备焊接接头的超声检测参照本条执行。
8.4.2 在用承压设备焊接接头超声检测工艺文件
8.4.2.1 焊接接头超声检测的工艺应满足表4.3的要求。
8.4.2.2 承压设备焊接接头的超声检测工艺规程一般包括表1、表21和表39所列的相关因素。
表39 在用承压设备焊接接头超声检测工艺规程涉及的相关因素
| 序号 | 相关因素 |
| 1 | 设备使用状况（温度、压力、介质、工况等） |
| 2 | 焊接接头失效模式或风险评估（RBI）分析结果（如有） |
8.4.3.1 对在用承压设备焊接接头进行超声检测时，其检测方法应符合6.3或6.4的相关要求，并应尽可能按原制造检测技术等级要求进行检测。
8.4.3.2 对在用承压设备焊接接头进行超声检测时，应根据设备材质、制造技术条件、使用状况（温度、压力、介质、工况等）、材料失效模式或风险评估（RBI）分析结果及相关技术规范等选择超声检测部位和比例。
8.4.3.3 根据焊接接头失效模式或风险评估（RBI）分析结果、缺陷产生的可能性推荐选择超声检测方法见表40。
表40 超声检测方法推荐表
| 损伤模式 | 损伤机理 | 易受到腐蚀或失效的材料 | 可能产生的缺陷 | 超声检测方法 |
| 环境开裂 | 高温氢腐蚀 | 碳钢、低合金钢，Cr-Mo钢和不锈钢等材料 | 焊缝开裂 | 横波斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 碱开裂 | 碳钢、低合金钢和奥氏体不锈钢（含双相钢） | 与焊缝相连的母材、焊缝或热影响区开裂 | 横波或纵波斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 氯化物应力腐蚀开裂 | 奥氏体不锈钢（含双相钢）镍基合金 | 焊缝或热影响区开裂 | 横波或纵波斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 连多硫酸应力腐蚀开裂 | 奥氏体不锈钢（含双相钢）、哈氏合金和镍基合金等 | 焊缝或热影响区开裂 | 横波或纵波斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 胺应力腐蚀开裂 | 碳钢和低合金钢 | 焊缝或热影响区开裂 | 横波斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 湿硫化氢损伤（鼓包/氢致开裂/应力导向氢致开裂/硫化物应力腐蚀开裂） | 碳钢和低合金钢 | 焊缝或热影响区开裂 | 横波斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 碳酸盐应力腐蚀开裂 | 碳钢和低合金钢 | 未消除应力的焊缝区或冷加工区开裂 | 横波斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 腐蚀开裂 | 几乎所有的金属和合金 | 焊缝开裂 | 横波或纵波斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 热疲劳 | 所有的金属 | 处于反复的热循环条件下金属构件开裂 | 横波或纵波斜探头检测等 |
| 环境开裂 | 再热裂纹 | 低合金钢、不锈钢等材料（含双相钢）以及诸如800H等镍基合金 | 高约束区，包括接管焊缝和厚壁管开裂 | 横波或纵波斜探头检测等 |
8.4.4 缺陷定量
8.4.4.1 检测时应对反射波幅在评定线或评定线以上的缺陷进行定量，除按6.3.13或6.4.7确定缺陷位置、波幅和指示长度外，还应包括对缺陷自身高度进行测定，并对缺陷的类型（面状、点状、体积状等）或性质尽可能作出估判。
8.4.4.2 承压设备焊接接头超声检测工艺规程一般应包括表1、表21和表39所列的相关因素。
8.4.5 缺陷自身高度的测定
8.4.5.1 缺陷两个方向[长度方向×高度（深度）方向]均属波形模式Ⅰ［模式识别详见附录Q的缺陷，即点状缺陷。其自身高度可采用AVG法或采用与试块（CSK-ⅢA）人工反射体动态回波波形比较法来测定。
8.4.5.2 长度方向属波形模式Ⅱ（模式识别详见附录O）、高度（深度）方向属波形模式Ⅰ的缺陷，即条状缺陷，缺陷自身高度可采用AVG法或采用与试块（CSK-ⅡA或CSK-ⅣA）人工反射体动态回波波形比较法来测定。
8.4.5.3 长度方向、高度（深度）方向均呈波形模式Ⅱ、Ⅲa或Ⅲb（模式识别详见附录Q）的缺陷，可用端点衍射波法或端部最大回波法确定其自身高度，测定方法见附录R或附录S。也可采用-6dB法进行测定，测定方法见附录T。
8.4.5.4 回波波形为模式Ⅳ(模式识别详见附录Q）的密集性缺陷
8.4.5.4.1 若在缺陷A型扫描回波包络线中，各反射回波波峰在显示屏扫描线中不能分辨时，则可作为一个单一缺陷考虑，其高度方向的尺寸可用端点衍射回波法或端部最大回波法测定。如无法确定端点衍射回波和端部最大回波，可采用-6dB法进行测定。
8.4.5.4.2 若在A型扫描回波包络线中，各反射回波波峰在显示屏扫描线上能够分辨，在这种情况下，各个缺陷自身高度可按8.4.5.1～8.4.5.3分别测定。
8.4.5.5 缺陷自身高度也可用其他无损检测方法进行测定，如射线检测、衍射时差法超摄检测等。
8.4.6 缺陷类型的确定
8.4.6.1 类型确定的主要因素
8.4.6.1.1 缺陷类型的确定应主要考虑焊接方法（包括焊接工艺、工件结构、坡口形式）、缺陷的位置、指示长度、自身高度、缺陷波幅、缺陷指向性，再结合缺陷静态波形和动态波形。通常应确定点状缺陷、线状缺陷（条状夹渣、条状气孔等）或面状缺陷（裂纹、未熔合等）。
8.4.6.1.2 对难以采用超声检测方法确定类型的缺陷，应增加射线检测或其他检测，以便进一步综合判断。
8.4.6.2 类型确定的方法（步骤）
8.4.6.2.1 缺陷类型确定的基本原则
8.4.6.2.1.1 缺陷类型确定应按以下顺序依次进行：
a) 缺陷波幅；
b) 缺陷指向性（方向性）；
c) 静态波形；
d) 动态波形。
8.4.6.2.1.2 应使用和实际检测相同的探头进行缺陷类型确定。
8.4.6.2.2 类型确定步骤1——缺陷波幅：
a) 当缺陷波幅低于评定线时，可不对缺陷进行分类；
b) 当缺陷波幅在判废线以上6dB且指示长度大于等于10mm时，该缺陷可按面状进行分类。
8.4.6.2.3 类型确定步骤2——缺陷指向性（方向性）
8.4.6.2.3.1 缺陷长度要求
按步骤2进行缺陷分类时，缺陷指示长度应满足：
a) 工件厚度6mm≤t≤15mm时，缺陷指示长度应大于等于t；
b) 工件厚度t＞15mm时，缺陷指示长度应大于等于t/2或15mm（取大者）。
8.4.6.2.3.2 步骤2应用条件：
a) 缺陷回波应来自同一缺陷反射体；
b) 用不同探头进行缺陷波幅比较时，应在各个探头检测的缺陷最高回波中的较大者Hmax的位置进行。另外，各个探头检测的缺陷最高回波中的较小者则为最小波幅Hmin。
c) 当用直探头和斜探头进行反射波幅比较时，探头标称频率应选择使之在工件中传播的波长相近；
d) 使用两个或两个以上不同折射角（K值）斜探头检测时，探头间折射角差应不小于等于10°；
e) 应考虑一探头声束通过焊缝金属，而另一探头声束仅通过母材时的衰减修正。
8.4.6.2.3.3 缺陷指向性（方向性）确定
以下各项同时满足时，可认为缺陷具有指向性：
a) 最大反射波幅Hmax在定量线或定量线以上；
b) 当使用不同折射角（K值）斜探头时，最大反射波幅Hmax与最小反射波幅Hmin的差值应大于或等于9dB；或当使用一个斜探头和一个直探头检测时，该差值应大于或等于15dB。
8.4.6.2.4 类型确定步骤3——缺陷静态波形
8.4.6.2.4.1 本步骤缺陷静态波形特征指与CSK-ⅡA或CSK-ⅣA试块横孔反射波形特征相比较而言。
8.4.6.2.4.2 至少使用一种探头从两个相互垂直的方向对缺陷进行检测。
8.4.6.2.4.3 若缺陷静态波形特征单一、尖锐且光滑，该缺陷可按非面状进行分类，否则按步骤4确定缺陷类型。
8.4.6.2.5 类型确定步骤4——缺陷动态波形
8.4.6.2.5.1 缺陷动态波形指垂直于缺陷长度方向移动探头所获得的回波包络线，同时观察波形变化情况。
8.4.6.2.5.2 缺陷动态波形模式分为5种，具体见附录Q:
a) 波形模式Ⅰ：点状反射体；
b) 波形模式Ⅱ：光滑平面反射体；
c) 波形模式Ⅲa：垂直入射粗糙平面反射体；
d) 波形模式Ⅲb：倾斜入射粗糙平面反射体；
e) 波形模式Ⅳ：密集型反射体。
8.4.6.2.6 缺陷类型的确定也可用其他无损检测方法进行，如射线检测、衍射时差法超声检测等。
8.4.6.3 对超声检测发现的缺陷，应与制造或安装的原始资料或上一检验周期的检测结果进行核对，以确定缺陷是否有扩展。
8.4.6.4 缺陷记录
8.4.6.4.1 应根据在用压力容器定期检验规则、锅炉定期检验规则、在用工业管道定期检验规程等有关技术规范的要求对缺陷的超声检测结果进行记录。
8.4.6.4.2 根据需要，也可由安全评定人员根据设计、制造、使用等条件提供允许缺陷的临界尺寸（缺陷位置、长度和自身高度），检测时只记录大于该界限尺寸的缺陷，交由评定人员评定处理。
8.4.6.4.3 记录内容应包括缺陷位置、类型、波幅、指示长度和自身高度以及缺陷分布图。记录应有检测人员和审核人员签字。
