(规范性附录)
不同类型焊接接头超声检测的具体要求
N.1 平板对接焊接接头
平板对接接头超声检测的具体要求见图N.1和表N.1。
注:
A、B、C、D、E、F、G、H、W、X、Y、Z——探头位置;
b——探头移动区宽度;
P—— 1个全跨距。
图N.1 平板对接接头
表N.1 平板对接接头检测的具体要求
检测技术等级 | 工件厚度t/mm | 纵向缺陷检测 | 横向缺陷检测 | ||||
斜探头检测 | 直探头检测 | 斜探头横向扫查 | |||||
不同折射角(K值)探头数量 | 检测面(侧) | 探头移动区宽度 | 探头位置 | 不同折射角(K值)探头数量 | 检测面 | ||
A | 6≤t≤40 | 1 | 单面双侧或单面单侧或双面单侧 | 1.25P | — | — | — |
B | 6≤t≤40 | 2 | 单面双侧 | 1.25P | — | 1 | 单面 |
40<t≤100 | 1或 | 双面双侧 | 1.25P | — | 1 | 单面 | |
2 | 单面双侧或双面单侧 | ||||||
100<t≤200 | 2 | 双面双侧 | 0.75P | — | 2 | 单面 | |
C | 6≤t≤15 | 1或 | 单面双侧 | 1.25P | — | 1 | 单面 |
2 | 单面双侧或双面单侧 | ||||||
15<t≤40 | 2 | 双面双侧 | 1.25P | — | 2 | 单面 | |
40<t≤100 | 2 | 双面双侧 | 1.25P | 单面(G或H) | 2 | 单面 | |
100<t≤500 | 2 | 双面双侧 | 0.75P | 单面(G或H) | 2 | 单面 |
100<t≤500 2 双面双侧 0.75P 单面(G或H) 2 单面
N.2 T型焊接接头
T型焊接接头超声检测的具体要求见图N.2和表N.2。
说明:
A、B、C、D、E、F、G、W、X、Y、Z——探头位置;
a、b、c、d、e、f、g——探头移动区宽度;
t——工件厚度;
1——腹板;
2——翼板。
图N.2 T型焊接接头
表N.2 T型焊接接头超声检测的具体要求
检测技术等级 | 工件厚度t/mm | 纵向缺陷检测 | 横向缺陷检测 | ||||||
斜探头检测 | 直探头检测 | 斜探头横向扫查 | |||||||
不同折射角(K值)探头数量 | 检测面(侧) | 探头移动区宽度 | 探头 位置 |
探头移动区宽度 | 不同折射角(K值)探头数量 | 检测面 | 探头移动区宽度 | ||
A | 6≤t≤15 | 1 | (A或B)或 | 1.25P | — | — | — | — | — |
(D和E) | d+e | ||||||||
15<t≤40 | 1 | A或B | 1.25P | C | c | — | — | — | |
(D和E) | d+e | ||||||||
B | 6≤t≤15 | 1 | (A或B)或 | 1.25P | C | c | 1 | F和G | c |
(D和E) | d+e | ||||||||
15<t≤40 | 1 | (A和B)和 | 1.25P | C | c | 1 | F和G | c | |
(D和E) | d+e | ||||||||
40<t≤200 | 2 | (A和B)和 | 0.75P | C | c | 1 | F和G | c | |
1 | (D和E) | d+e | |||||||
C | 6≤t≤15 | 1 | A和B | 1.25P | C | c | 2 | F和G | c |
15<t≤100 | 2 | (A和B)和 | 1.25P | C | c | 2 | (F和G) 和(X和Y) 和(W和Z) |
c+f+g | |
1 | (D和E) | d+e | |||||||
t>100 | 3 | (A和B)和 | 0.75P | C | c | 2 | (F和G) 和(X和Y) 和(W和Z) |
c+f+g | |
1 | (D和E) | d+e |
N.3 插入式接管角接接头
插入式接管角接接头超声检测的具体要求见图N.3和表N.3。
说明:
A、B、C、D、E、F、U、V、W、X、Y、Z——探头位置;
a、b、c、d、e——探头移动区宽度;
t——工件厚度;
1——筒体或封头;
2——接管。
图N.3 插入式接管角接接头
表N.3 插入式接管角接接头超声检测的具体要求
检测技术等级 | 工件厚度t/mm | 纵向缺陷检测 | 横向缺陷检测 | |||||
斜探头检测 | 直探头检测 | 斜探头横向扫查 | ||||||
不同折射角(K值)探头数量 | 检测面(侧) | 探头移动区宽度 | 探头位置 | 探头移动区宽度 | 不同折射角(K值)探头数量 | 检测面 | ||
A | 6≤t≤15 | 1 | A或B | 1.25P | C | c | — | — |
15<t≤40 | 1 | (A或B)和 (F或D或E) |
1.25P d或e |
C | c | |||
B | 6≤t≤15 | 1 | (A或B)或(D和E) | 1.25P d |
C | c | 1 | (X和Y)或(W和Z) |
15<t≤40 | 1 | (A或B)和 (D和E) |
1.25P d+e |
C | c | 1 | (X和Y)或(W和Z) | |
40<t≤100 | 2 | (A和B)和 | 1.25P | C | c | 2 | (X和Y)和(W和Z) | |
1 | (D和E) | d+e | ||||||
100<t≤200 | 2 | (A和B)和 | 0.75P | C | c | 2 | (X和Y)和(W和Z) | |
1 | (D和E) | d+e | ||||||
C | 6≤t≤15 | 1 | (A或B)和 (D和E) |
1.25P d+e |
C | c | 1 | (X和Y)和(W和Z) |
15<t≤40 | 2 | (A或B)和 (D和E) |
1.25P d+e |
C | c | 2 | (X和Y)和(W和Z) | |
40<t≤100 | 2 | (A和B)和 (D和E) |
1.25P d+e |
C | c | 2 | (X和Y)和(W和Z) | |
t>100 | 2 | (A和B)和 (D和E) |
0.75P d+e |
C | c | 2 | (X和Y)和(W和Z) | |
注1:本表适用于接管公称直径大于等于250mm且接管内径大于等于200mm的角接接头检测。 注2:本表适用于筒体(或封头)检测面曲率半径大于等250mm且内外径比大于等于70%。 |
L型焊接接头超声检测的具体要求见图N.4和表N.4。
说明:
A、B、C、D、E、F、G、H、X、Y——探头位置;
a、b、c——探头移动区宽度;
t——工件厚度;
1——接管或腹板;
2——壳体或封头或翼板。
图N.4 L 型焊接接头
表N.4 L型焊接接头超声检测的具体要求
检测技术等级 | 工件厚度t/mm | 纵向缺陷检测 | 横向缺陷检测 | |||||
斜探头检测 | 直探头检测 | 斜探头横向扫查 | ||||||
不同折射角(K值)探头数量 | 检测面(侧) | 探头移动区宽度 | 探头位置 | 探头移动区宽度 | 不同折射角(K值)探头数量 | 检测面 | ||
A | 6≤t≤15 | 1 | A或B或H | 1.25P | C | c | — | — |
15<t≤40 | 1 | A或B或H | 1.25P | C | c | — | — | |
B | 6≤t≤15 | 1 | A或B或H | 1.25P | C | c | 1 | (D和E)或 (F和G)或(X和Y) |
15<t≤40 | 2 | (A或B)和H | 1.25P | C | c | 2 | (D和E)或 (F和G)或(X和Y) |
|
40<t≤100 | 2 | (H或A)和B | 1.25P | C | c | 2 | D和E | |
100<t≤200 | 2 | (H或A)和B | 1.25P | C | c | 2 | D和E | |
C | 6≤t≤15 | 1 | (H或A)和B | 1.25P | C | c | 1 | D和E |
15<t≤40 | 2 | (H或A)和B | 1.25P | C | c | 1 | D和E | |
40<t≤100 | 3 | (H或A)和B | 1.25P | C | c | 2 | D和E | |
t>100 | 3 | (H或A)和B | 0.75P | C | c | 2 | D和E |
安放式接管与筒体(或封头)角接接头超声检测的具体要求见图N.5 和表N.5。
说明:
A、B、C、D、X、Y——探头位置;
a、b、c、d、x——探头移动区宽度;
t——工件厚度;
1——接管;
2——筒体或封头。
图N.5 安放式接管与筒体(或封头)角接接头
表N.5 安放式接管与筒体(或封头)角接头超声检测的具体要求
检测技术等级 | 工件厚度t/mm | 纵向缺陷检测 | 横向缺陷检测 | |||||
斜探头检测 | 直探头检测 | 斜探头横向扫查 | ||||||
不同折射角(K值)探头数量 | 检测面(侧) | 探头移动区宽度 | 探头位置 | 探头移动区宽度 | 不同折射角(K值)探头数量 | 检测面 | ||
A | 6≤t≤15 | 1 | A或B | 1.25P 0.5P |
— | — | — | — |
15<t≤40 | 1 | A或B | 1.25P 0.5P |
C | c | |||
B | 6≤t≤15 | 2 | A或B | 1.25P 0.5P |
— | — | 1 | X和Y |
15<t≤40 | 2 | A或B | 1.25P 0.5P |
C | c | 1 | X和Y | |
40<t≤100 | 2 | A和 (B或D) |
1.25P 0.5P |
C | c | 2 | X和Y | |
100<t≤200 | 2 | A和 (B或D) |
0.75P 0.5P |
C | c | 2 | X和Y | |
C | 6≤t≤15 | 3 | A或B | 1.25P 0.5P |
C | c | 1 | X和Y |
15<t≤40 | 3 | A和 (B或D) |
1.25P 0.5P |
C | c | 1 | X和Y | |
40<t≤100 | 3 | A和 (B和D) |
1.25P 0.5P |
C | c | 2 | X和Y | |
t>100 | 3 | A和 B和D |
1.25P 0.5P |
C | c | 2 | X和Y | |
注1:本表适用于接管公称直径大于等于250mm的角接接头检测。 注2:本表适用于筒体(或封头)检测面曲率半径大于等250mm。 |
十字焊接接头超声检测的具体要求见图N.6和表N.6。
说明:
A、B、C、D、E、F、G、H、W、W1、W2、X、X1、X2、Y、Y1、Y2——探头位置;
a、b、c、d、e、f、g、h——探头移动区宽度;
t——工件厚度;
1、2、3——部件。
图N.6 十字焊接接头
表N.6 十字焊接接头超声检测的具体要求
检测技术等级 | 工件厚度t/mm | 纵向缺陷检测 | 横向缺陷检测 | |||
斜探头检测 | 斜探头横向扫查 | |||||
不同折射角(K值)探头数量 | 检测面(侧) | 探头移动 区宽度 |
不同折射角(K值)探头数量 | 检测面 | ||
A | 6≤t≤15 | 1 | (A和C)或(B和D) | 1.25P | — | — |
15<t≤40 | 1 | A和B和C和D | 0.75P | — | — | |
B | 6≤t≤15 | 1 | A和B和C和D | 1.25P | 1 | (X1和Y1和W1和Z1) 和(X2和Y2和W2和Z2) |
15<t≤40 | 2 | A和B和C和D | 0.75P | 1 | (X1和Y1和W1和Z1) 和(X2和Y2和W2和Z2) |
|
40<t≤200 | 2 1 |
(A和B和C和D) 和(E和F和G和H) |
0.75P e+f+g+h |
2 | (X1和Y1和W1和Z1) 和(X2和Y2和W2和Z2) |
|
C | 6≤t≤15 | 1 | A和B和C和D | 1.25P | 1 | (X1和Y1和W1和Z1) 和(X2和Y2和W2和Z2) |
15<t≤40 | 2 | A和B和C和D 和(E和F和G和H) |
0.75P e+f+g+h | 1 | (X1和Y1和W1和Z1) 和(X2和Y2和W2和Z2) |
|
40<t≤100 | 3 1 |
(A和B和C和D) 和(E和F和G和H) |
0.75P e+f+g+h |
2 | (X1和Y1和W1和Z1) 和(X2和Y2和W2和Z2) |
|
t>100 | 3 1 |
(A和B和C和D) 和(E和F和G和H) |
0.75P e+f+g+h |
2 | (X1和Y1和W1和Z1) 和(X2和Y2和W2和Z2) |
N.7 嵌入式接管与筒体(或封头)对接接头
嵌入式接管与筒体(或封头)对接接头超声检测的具体要求见图.7和表N.7。
说明:
A、B、C、D、E、F、G、H、W、X、Y、Z——探头位置;
b——探头移动去宽度;
1——筒体或封头;
2——接管。
图N.7 嵌入式接管与筒体(封头)对接接头
表N.7 嵌入式接管与筒体(封头)对接接头超声检测的具体要求
检测技术等级 | 工件厚度t/mm | 纵向缺陷检测 | 横向缺陷检测 | ||||
斜探头检测 | 直探头检测 | 斜探头横向扫查 | |||||
不同折射角(K值)探头数量 | 检测面 | 探头移动 区宽度 |
探头位置 | 不同折射角(K值)探头数量 | 检测面 | ||
A | 6≤t≤40 | 1 | A或B | 1.25P | — | — | — |
B | 6≤t≤40 | 1或 | A和B | 1.25P | — | 1 | (X和Y) 或(W和Z) |
2 | A或B | 1.25P | — | ||||
40≤t≤100 | 2 | A和B | 1.25P | 1 | (X和Y) 或(W和Z) |
||
100<t≤200 | 2 | A和B | 0.75P | — | 2 | (C和D) 或(E和F) |
|
C | 6≤t≤15 | 1或 | A和B | 1.25P | — | 1 | (C和D) 或(E和F) |
2 | A或B | 1.25P | — | ||||
15<t≤40 | 2 | A和B | 1.25P | — | 2 | (C和D) 或(E和F) |
|
40<t≤100 | 3 | A和B | 1.25P | (G或H) | 2 | (C和D) 或(E和F) |
|
t>100 | 3 | A和B | 0.75P | (G或H) | 2 | (C和D) 或(E和F) |
|
注1:本表适用于筒体(或封头)检测面曲率半径大于等250mm且内外径比大于等于70%。 注2:B面检测时,如所用一种或几种探头移动区宽度足够,则应优先选择在B面双侧使用该种探头进行检测。 |