附 录 K
(规范性附录)
承压设备曲面环向对接接头的超声检测方法
K.1 范围
本附录适用于承压设备检测面曲率半径为80mm~250mm的环向对接接头超声检测。
K.2 对比试块RB-C
K.2.1 对比试块RB-C的形状和尺寸见图K.1。
K.2.2 试块长度L应根据所使用的声程确定,一般应大于4KT(T无试块厚度)。
K.2.3 试块反射体到试块一侧的距离L1一般应大于2.5KT。
K.2.4 试块宽度W按6.3.10.1式(5)确定。
K.2.5 工件检测面曲率半径应在对比试块的曲率半径的0.9倍~1.5倍范围内。
K.2.6 试块厚度与工件厚度相差不超过工件厚度的20%。
K.2.7 试块材质应与工件材质相同或相近。
K.3 探头
K.3.1 检测时应确保探头与工件的稳定接触。
K.3.2 探头折射角(K值)的选择见表25,探头标称频率可按表K.1选择。
K.4 距离波-幅曲线
K.4.1 距离-波幅曲线的制作应在RB-C试块上进行,距离-波幅曲线灵敏度按表27的规定执行(不考虑试块宽度差异的影响)。
K.4.2 如果使用CSK-ⅡA试块制作距离-波幅曲线,则应在RB-C试块上进行修正。
K.5 检测
K.5.1 检测面的选择按表K.1进行。
K.5.2不同折射角(K值)探头数量、横向缺陷检测等还应符合按表N.1检测技术等B级的要求。
K.5.3 扫查方法
扫查方法尽可能按6.3.9的规定执行。
K.6 缺陷定量
缺陷定量按6.3.13的规定执行。
K.7 缺陷评定
缺陷评定按6.3.14的规定执行。
表K.1 探头标称频率、检测面及探头移动区宽度推荐表
内外壁检测可能 | 工件厚度t/mm | 探头标称频率/MHz | 检测面(侧) | 探头移动区宽度 |
仅能从外壁(凸面)检测 | 6≤t≤40 | 2~5 | 外壁(凸面)双侧 | 1.25P |
40≤t≤100 | 2~2.5 | 外壁(凸面)双侧 | 1.25P | |
t>100 | 2~2.5 | 外壁(凸面)双侧 | 0.75P | |
内外壁均可检测 | 6≤t≤40 | 4~5 | 外壁(凸面)双侧或内壁(凹侧)双侧 | 1.25P |
40≤t≤100 | 2~2.5 | 外壁(凸面)双侧或内壁(凹面)双侧 | 1.25P | |
t>100 | 2~2.5 | 内外壁(凸面和凹面)双侧 | 0.75P |