工作开始前，需要根据探头和被测工件的情况来校准被测材料的声速以及探头延时，以用于探伤仪测量参数的计算，所以在探伤前请务必校准。 
10.1    直声束校准
直声束校准包括校准被测材料的声速及探头的零点（探头延时）具体的校准步骤请参考3.4.2节所述。其中直探头可使用两个已知厚度的试块进行校准，斜探头可使用两个已知半径的同心圆弧面进行校准。
10.2    斜声束校准
斜声束校准包括校准入射点（探头前沿）和校准探头角度（K值）。
           

1、    校准入射点（探头前沿）：用IIW试块（又称荷兰试块）或CSK－IA试块测斜探头零点，首选将探伤仪声速调节为3230m/s，探测范围为150mm，然后开始测试，用户如图将探头放在试块上并移动，使得R100mm的圆弧面的反射体回波达到最高，用直尺量出探头前端面和试块R100mm弧圆心距离，此值即为该探头的前沿值，R100mm弧圆心对应探头上的位置即为探头入射点。
2、    校准探头角度（K值）：用角度值标定的探头可用IIW试块校准，如果是用K值标定的探头，可用CSK－IA试块校准。这两种试块上有角度或K值的标尺，按探头标称值选择合适的标尺（下图所示，在IIW试块上侧可校准60－76度的探头，下侧可校准74－80度的探头，CSK-IA试块上侧可校准K2.0、K2.5、K3.0的探头，下侧可校准K1.0、K1.5的探头。请按试块上的标定值选择用合适的校准试块及校准方法）。如图放置探头，左右移动使得反射体回波达到最高，此时入射点对应的刻度就是探头的角度或K值。