附 录 L
（规范性附录）
承压设备接管与筒体（或封头）角接接头超声检测方法


L.1 范围
L.1.1 本附录规定了接管与筒体（封头）角接接头的超声检测检测方法。
L.1.2 使用本附录应满足以下条件：
a) 对于插入式接管与筒体（或封头）角接接头：
1）筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于250mm且内外径比大于等于70%；
2）接管公称直径大于等于80mm。
b) 对于安放式接管与筒体（或封头）角接接头：
1）筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于150mm；
2）接管公称直径大于等于100mm。
L.2 接管与筒体（或封头）角接接头型式
接管与筒体（或封头）角接接头型式有插入式、安放式等，见图L.1。
 
图L.1 接管与筒体（或封头）角接接头型式
L.3 探头
L.3.1 检测时应确保探头与工件的稳定接触。
L.3.2 探头的选择
探头的选择按6.3.6的规定执行。
L.4 仪器调节
L.4.1 斜探头入射点、折射角（K值）
斜探头入射点、折射角（K值）的测量应选择在CSK-IA、CSK-IIA试块上进行，也可在RB-L或RB-C试块上进行。
L.4.2 仪器时基线
仪器时基线的调整应选择在CSK-IA、CSK-IIA试块上进行，也可在RB-L或RB-C试块上进行。
L.4.3 距离-波幅曲线
L.4.3.1 距离-波幅曲线的制作应在CSK-ⅡA试块上进行，距离-波幅曲线灵敏度按表27的规定执行。
L.4.3.2 检测面曲率半径大于等于50mm～250mm时，距离-波幅曲线的灵敏度修正应在RB-L或RB-C试块上进行。此时应考虑不同检测位置，检测面曲率的变化导致声程等变化的修正，包括：
a）封头上锅筒体上的不同焊接接头；
b）同一焊接接头的不同检测位置（相对于筒体轴线偏转角的变化，接管在封头上不同位置引起的检测面曲率的变化）。
L.5 检测
L.5.1 插入式接管与筒体（或封头）角接接头检测
L.5.1.1 当接管公称直径大于等于250mm且接管内径大于等于200mm时，角接接头检测方法、探头数量、检测面及探头移动区宽度按图N.3和表N.3进行。
L.5.1.2 当接管公称直径大于等于80mm～250mm时，角接接头检测方法、探头数量、检测面及探头移动区宽度按图N.3和表L.1进行，一般按技术等级B级进行检测。
表L.1 插入式接管与筒体（或封头）角接接头超声检测的具体要求

检测技术等级	工件厚度t/mm	纵向缺陷检测					横向缺陷检测
		斜探头检测			直探头检测		斜探头横向扫查
		不同折射角（K值）探头数量	检测面（侧）	探头移动区宽度	探头 位置	探头移动区宽度	不同折射角（K值）探头数量	检测面
A	6≤t≤15	1	A	1.25P	—	—	—	—
	15＜t≤40	1	(A或B)和F	1.25P d	—	—	—	—
B	6≤t≤15	1	(A或B)或F	1.25P d	—	—	1	(X和Y)或 （W和Z）
	15＜t≤40	1	(A或B)和F	1.25P d	—	—	1	(X和Y)或 （W和Z）
	40＜t≤100	2	(A或B)和	1.25P	a	b	2	(X和Y)或 （W和Z）
		1	F	d
	100＜t≤200	2	(A或B)和	0.75P	a	b	2	(X和Y)和 （W和Z）
		1	F	d
C	6≤t≤15	1	(A或B)和F	1.25P	a	b	1	(X和Y)和 （W和Z）
	15＜t≤40	2	(A或B)和F	1.25P d	a	b	2	(X和Y)和 （W和Z）
	40＜t≤100	2	(A或B)和F	1.25P	a	b	2	(X和Y)和 （W和Z）
	t＞100	2	(A或B)和F	0.75P d	a	b	2	(X和Y)和 （W和Z）
a 尽可能使用直探头在位置C检测。 b 当能使用直探头进行检测时，探头移动宽度为c。

a 尽可能使用直探头在位置C检测。
b 当能使用直探头进行检测时，探头移动宽度为c。
L.5.2 安放式接管与筒体（或封头）角接接头检测
L.5.2.1 当接管公称直径大于等于250mm且筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于250mm时，角接接头检测方法、探头数量、检测面及探头移动区宽度按图N.5和表N.5进行。
L.5.2.2 当接管公称直径大于等于100mm～250mm且筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于150mm时，角接接头检测方法、探头数量、检测面及探头移动区宽度按图L.2和表L.2进行，一般按技术等级B级进行检测。
L.5.3 扫查方法尽可能按6.3.9的规定执行。
L.6 缺陷定量
缺陷定量按6.3.13的规定执行。
L.7 缺陷评定
缺陷评定按6.3.14的规定执行。
L.8 质量分级
接管与筒体（或封头）角焊接接头超声检测质量分级按6.5.1的规定执行。
 
说明：
A、B、C、D、X、Y表示探头位置；
a、b、c、d、x——探头移动区宽度；
t——工件厚度；
1——接管；
2——筒体或封头。
图L.2 安放式式接管与筒体（封头）角接接头
表L.2 安放式接管与筒体（或封头）角接接头超声检测的具体要求

检测技术等级	工件厚度t/mm	纵向缺陷检测					横向缺陷检测
		斜探头检测			直探头检测		斜探头横向扫查
		不同折射角（K值）探头数量	检测面（侧）	探头移动区宽度	探头 位置	探头移动区宽度	不同折射角（K值）探头数量	检测面
A	6≤t≤15	1	B或A	0.5P 1.25P	—	—	—	—
	15＜t≤40	1	B或A	0.5P 1.25P			—	—
B	6≤t≤15	2	B或A	0.5P 1.25P	—	—	1	X和Y
	15＜t≤40	2	B或A	0.5P 1.25P	C	c	1	X和Y
	40＜t≤100	2	A和（B或D）	1.25P 0.5P	C	c	2	X和Y
	100＜t≤200	2	A和（B或D）	0.75P 0.5P	C	c	2	X和Y
C	6≤t≤15	3	B或A	0.5P 1.25P	C	c	1	X和Y
	15＜t≤40	3	A和（B或D）	1.25P 0.5P	C	c	1	X和Y
	40＜t≤100	3	A和B和D	1.25P 0.5P	C	c	2	X和Y
	＞100	3	A和B和D	0.75P 0.5P	C	c	2	X和Y
注1：如果在位置B能进行检测，则可用位置B的检测替代位置A的检测。 注2：筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于150mm～250mm时，可对角接接头不进行直探头检测和D面检测。