5.7.1 范围
5.7.1.1 本条适用于承压设备用奥氏体钢锻件及奥氏体-铁素体双相不锈钢锻件的超声检测方法和质量分级。
5.7.1.2 承压设备用镍合金锻件的超声检测方法和质量分级参照本条执行。
5.7.2 检测原则
5.7.2.1锻件原则上应在热处理后，加工成适合检测外形时，并在精加工前进行超声检测。
5.7.2.2 检测面的表面粗糙度Ra≤6.3μm，检测面应无氧化皮、漆皮、污物等。
5.7.2.3 一般应进行直探头纵波检测。对筒形锻件和环形锻件还应进行斜探头检测。
5.7.3 探头
5.7.3.1 探头的标称频率为1MHz～2.5MHz。
5.7.3.2 直探头的晶片直径为φ14mm～φ40mm，斜探头的晶片面积在300mm2～625mm2。
5.7.3.3 斜探头的折射角(K值)，一般为35°～63°(K0.7～K2)。
5.7.3.4 为了准确测定缺陷，必要时也可采用其他探头。
5.7.4 试块
5.7.4.1 对比试块应符合4.2.3.2的规定。
5.7.4.2 对比试块的晶粒大小和声学特性应与被检锻件大致相近，两者衰减系数的差值不大于4dB/m。
5.7.4.3 应制备几套不同晶粒度的奥氏体钢锻件对比试块，以便能将缺陷区衰减同试块作合理的比较。
5.7.4.4 对比试块的形状和尺寸按图9和表15所示。
表15 奥氏体钢锻件试块尺寸 单位为mm
| φ3 | φ6 | φ10 | φ13 | ||||
| L | D | L | D | L | D | L | D |
| 20 | 50 | 20 | 50 | 20 | 50 | 20 | 50 |
| 40 | 50 | 50 | 50 | 50 | 50 | 50 | 50 |
| 60 | 50 | 80 | 50 | 100 | 60 | 100 | 60 |
| 80 | 50 | 120 | 60 | 150 | 80 | 150 | 80 |
| — | — | 160 | 80 | 200 | 80 | 200 | 80 |
| — | — | 200 | 80 | 250 | 100 | 250 | 100 |
| — | — | — | — | 300 | 100 | 300 | 100 |
| — | — | — | — | — | — | 400 | 150 |
| — | — | — | — | — | — | 500 | 150 |
| — | — | — | — | — | — | 600 | 200 |
5.7.4.5 在条件允许时，可在锻件有代表性的部位加工一个或几个适当大小的对比孔或V形槽，代替对比试块进行灵敏度的校准。
5.7.5 灵敏度的确定
5.7.5.1 当被检锻件厚度小于或等于600mm时，应根据定货锻件厚度和要求的质量等级，在适当厚度和当量的平底孔试块上校准，并根据实测值作出距离-波幅曲线并以此作为基准灵敏度。
5.7.5.2 当被检锻件厚度大于600mm时，在锻件无缺陷部位将底波调至满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。如检测面与底面反射面不平行，也可用φ13mm平底孔试块作距离-波幅曲线作为基准灵敏度。
5.7.5.3 扫查灵敏度应至少比基准灵敏度提高6dB。
5.7.6 检测
5.7.6.1 耦合方式
耦合方式一般可采用直接接触法。
5.7.6.2 灵敏度补偿
检测时应根据实际情况进行耦合补偿、衰减补偿和曲面补偿。
5.7.6.3 直探头检测
5.7.6.3.1 锻件所有被检区域，均应尽可能从两个相互垂直方向进行检测，检测距离至少为厚度的一半。
5.7.6.3.2 检测盘形或饼形锻件时，采用直探头至少从一个平面进行检测，如有可能还应从圆周面进行扫查。
5.7.6.3.3 检测圆柱形锻件时，对于筒形锻件和环形锻件，可从整个外表面（侧面和圆周面）用直探头进行检测。当长度与直径之比超过6或轴向长度超过600mm时，应从两个端面以尽可能大的范围用直探头作轴向检测，如果由于衰减等原因，双端检测不能超过轴向长度的一半时，可用斜探头代替直探头进行轴向检测。
5.7.6.4 斜探头检测
奥氏体钢锻件斜探头检测应按附录F的要求进行。
5.7.7 缺陷记录
5.7.7.1 由于缺陷的存在，而使基准灵敏度下的底波降到满刻度25%以下的部位。
5.7.7.2 缺陷波幅在距离-波幅曲线以上的部位。
5.7.8 质量分级
5.7.8.1 单晶直探头或双晶直探头检测的质量分级见表16。
5.7.8.2 斜探头检测的质量分级见表17。
5.7.8.3 在具体进行质量分级时，表16和表17应独立的使用。
表16 直探头检测的质量分级 单位为mm
| 工件厚度 | ≤80 | ＞80～200 | ＞200～300 | ＞300 | ＞600 | |||||
| 质量等级 | I | Ⅱ | I | Ⅱ | I | Ⅱ | I | Ⅱ | I | Ⅱ |
| 缺陷当量直径或因缺陷 引起底波降低后的幅度 |
≤φ3 | ＞φ3 | ≤φ6 | ＞φ6 | ≤φ10 | ＞φ10 | ≤φ13 | ＞φ13 | ≥5% | ＜5% |
| 注：工件厚度主要指承压方向上的尺寸：对于筒形或环形锻件，工件厚度为筒体厚度；对于并行或类似锻件，工件厚度为其最小厚度。 | ||||||||||
| 等级 | I | Ⅱ |
| 缺陷波幅 | 缺陷波幅低于V形槽试块距离-波幅曲线，此时V形槽深为工件壁厚的3%（最大为3mm） | 缺陷波幅低于V形槽试块距离-波幅曲线，此时V形槽深为工件壁厚的5%、（最大为6mm） |
