J.1.1 本附录适用于检测面曲率半径为50mm～250mm的纵向对接接头超声检测。
J.1.2 本附录不适用于内外径比小于70%（工件厚度与工件外径之比大于15%）的纵向对接接头超声检测。
J.2 对比试块RB-L
J.2.1 试块形状和尺寸应符合表J.1和图J.2的规定。
表J.1 RB-L试块尺寸 单位为mm
RB-L编号 工件厚度t 试块厚度T 横孔深度位置 横孔直径
RB-L-1 ≥6～20 25 5、10、20 φ2.0
RB-L-2 ＞20～50 60 5、10、20、30、40、50 φ2.0
注：工件厚度t大于50mm时，试块宽度应满足6.3.10.1的要求，横孔深度位置最小可为10mm，深度间隔不超过20mm，试块厚度大于或等于工件厚度。
J.2.2 试块长度L应根据所使用的声程确定。
J.2.3 试块反射体到试块远距离一侧的距离L1一般应大于KT+30mm，反射体到试块一侧的距离L2一般应大于2KT(T为试块厚度)。
J.2.4 对比试块的曲率半径应在工件检测面曲率半径的0.9倍～1.1倍范围内。
J.2.5 试块材质应与工件材质相同或相近（声学特性）。
J.3 探头
J.3.1 检测时应确保探头与工件的稳定接触。
J.3.2 探头折射角（K值）可按表J.2选择。
表J.2 曲面纵向对接接头超声检测用探头用探头折射角（K值）推荐表
| 厚径比t/D（%） | 折射角（K值） |
| t/D≤2.0 | 40°～70°（0.84～2.75） |
| 2.0＜t/D≤5.0 | 40°～63°（0.84～2） |
| 5.0＜t/D≤10.0 | 40°～45°（0.84～1） |
| 10.0＜t/D≤15.0 | 40°（0.84） |
J.4.1 距离-波幅曲线制作在RB-L试块上进行。
J.4.2 距离-波幅曲线灵敏度按表27的规定执行（不考虑试块宽度差异的影响）。
J.5 检测
J.5.1 探头标称频率、检测面及探头移动区宽度按表J.3的规定执行。
J.5.2 不同折射角（K值）探头数量、横向缺陷检测等还应符合按表N.1检测技术等B级的要求。
J.5.3 扫查灵敏度不低于评定线灵敏度。
J.5.4 扫查方法尽可能按6.3.9的规定执行。
J.6 缺陷定量
缺陷定量按6.3.13的规定执行。
J.7 缺陷评定
缺陷评定按6.3.14的规定执行。
表J.3 探头标称频率、检测面及探头移动区宽度推荐表
| 内外壁检测可能 | 工件厚度t/mm | 探头标称频率/MHz | 检测面（侧） | 探头移动区宽度 |
| 仅能从外壁（凸面）检测 | 6≤t≤30 | 4～5 | 外壁（凸面）双侧 | 1.25P |
| 30≤t≤60 | 2～5 | 外壁（凸面）双侧 | 1.25P | |
| t＞60 | 2～2.5 | 外壁（凸面）双侧 | 0.75P | |
| 内外壁均可检测 | 6≤t≤30 | 4～5 | 外壁（凸面）双侧或内壁（凹面）双侧 | 1.25P |
| 30≤t≤60 | 2～5 | 外壁（凸面）双侧或内壁（凹面）双侧 | 1.25P | |
| t＞60 | 2～2.5 | 外壁（凸面）双侧或内壁（凹面）双侧 | 0.75P | |
| 注：P为检测面跨距。 | ||||
