5.6.1 范围
5.6.1.1 本条适用于直径大于等于M36承压设备用碳钢和低合金钢螺栓坯件的超声检测方法和质量分级。
5.6.1.2 奥氏体不锈钢螺栓坯件的超声检测方法参照本条执行，质量分级按本条。
5.6.2 检测原则
检测一般应安排在热处理后进行，检测面的表面粗糙度Ra≤6.3μm。
5.6.3 探头
采用2MHz～5MHz的单晶直探头或双晶直探头。
5.6.4 对比试块
5.6.4.1 单晶直探头轴向检测时，对比试块的尺寸和形状应符合5.5.4.3的规定。
5.6.4.2 双晶直探头轴向检测时，对比试块的尺寸和形状应符合5.4.4.4的规定。
5.6.4.3 径向检测时，应尽可能选择晶片尺寸较小的探头。当螺栓坯件曲率半径小于100mm时，应采用图8和表12所示的曲面对比试块形状和尺寸。
图8 螺栓坯件径向检测对比试块
5.6.5 灵敏度的确定
5.6.5.1 单晶直探头基准灵敏度的确定
轴向检测时，使用CS-2试块，根据检测范围依次测试一组不同深度的φ2mm平底孔（至少3个），制作单晶直探头的距离-波幅曲线，并以此作为基准灵敏度；径向检测时，使用CS-2试块或图8所示试块，根据检测范围或曲率半径依次测试一组不同检测深度的φ2mm平底孔，制作单晶直探头的距离-波幅曲线，并以此作为基准灵敏度。
表12 螺栓坯件径向检测对比试块尺寸 单位为mm
| 对比试块半径R | A | B | C | D | E | 适用工件曲率半径范围 |
| 90 | 15 | 30 | 45 | 90 | 135 | 82～99 |
| 75 | 12 | 24 | 38 | 76 | 114 | 67～81 |
| 60 | 10 | 20 | 30 | 60 | 90 | 54～66 |
| 48 | 8 | 16 | 24 | 48 | 72 | 43～53 |
| 38 | 6 | 12 | 20 | 40 | 60 | 36～42 |
| 32 | 4 | 8 | 16 | 25 | 40 | 29～35 |
| 25 | 4 | 8 | 16 | 24 | 32 | 22～28 |
| 20 | 4 | 8 | 14 | 20 | 32 | 18～22 |
5.6.5.2 双晶直探头基准灵敏度的确定
轴向检测时，使用CS-3试块，根据检测范围依次测试一组不同检测深度的φ2mm平底孔（至少3个）。制作双晶直探头的距离-波幅曲线，并以此作为基准灵敏度。径向检测时，使用CS-3试块或图8所示试块，根据检测范围或曲率半径依次测试一组不同检测深度的φ2mm平底孔。制作双晶直探头的距离-波幅曲线，并以此作为基准灵敏度。
5.6.5.3 扫查灵敏度一般应比基准灵敏度高6dB。
5.6.6 检测
5.6.6.1 耦合方式
耦合方式可采用直接接触法。
5.6.6.2 灵敏度补偿
检测时应根据实际情况进行耦合补偿、衰减补偿和曲面补偿。
5.6.6.3 扫查方式
5.6.6.3.1 径向检测应按螺旋线或沿圆周进行扫查，行程应有重叠，扫查面应包括整个圆柱表面。
5.6.6.3.2 轴向检测一般应从螺栓坯件的两端进行扫查，尽可能避免边缘效应对检测结果的影响。
斜探头检测应按附录E的要求进行。
5.6.7 缺陷当量的确定
一般采用距离-波幅曲线确定缺陷当量。
5.6.8 质量分级
5.6.8.1 单个缺陷的质量分级见表13。
5.6.8.2 由缺陷引起底波降低量的质量分级见表14。
5.6.8.3 按表13和表14评定缺陷等级时，应作为独立的等级分别使用。
5.6.8.4 当缺陷被检测人员判定为白点、裂纹等危害性缺陷时，螺栓坯件的质量等级为Ⅴ级。
表13 单个缺陷的质量分级 单位为mm
| 等级 | Ⅰ | Ⅱ | Ⅲ | Ⅳ | Ⅴ |
| 缺陷当量平底孔直径 | ≤φ2 | ≤φ3 | ≤φ4 | ≤φ4+6dB | ＞φ4+6dB |
| 等级 | Ⅰ | Ⅱ | Ⅲ | Ⅳ | Ⅴ |
| 由缺陷引起的底波降低量BG/BF | ≤6 | ≤12 | ≤12 | ≤24 | ＞24 |
| 注：本表仅适用于声程大于近场区长度的缺陷。 | |||||
